Toggle navigation
English
Ελληνικά
Ελληνικά
English
Ελληνικά
Σύνδεση
Toggle navigation
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
007 Πολυτεχνική Σχολή / Faculty of Engineering
Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών / Department of Electrical and Computer Engineering
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
007 Πολυτεχνική Σχολή / Faculty of Engineering
Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών / Department of Electrical and Computer Engineering
Προβολή τεκμηρίου
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Article
Foreword
Ημερομηνία
2016
Συγγραφέας
Khan, O.
Michael, Maria K.
Miele, A.
Qiaoyan, Y.
Source
2016 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2016
Issue
Journal Article
Google Scholar check
Metadata
Εμφάνιση πλήρους εγγραφής
Links
https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84999277880&doi=10.1109%2fDFT.2016.7684056&partnerID=40&md5=17f5c8db56f167fe2df35bd917f6e57f
DOI
10.1109/DFT.2016.7684056
URI
http://gnosis.library.ucy.ac.cy/handle/7/43799
Collections
Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών / Department of Electrical and Computer Engineering
[2897]
Cite as
APA
Vancouver
Harvard
BibTeX
Αναζήτηση στο Γνῶσις
Αυτή η συλλογή
Πλοήγηση
Όλο το Γνῶσις
Κοινότητες & Συλλογές
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Αυτή η συλλογή
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Ο λογαριασμός μου
Σύνδεση
Statistics
View Usage Statistics