Toggle navigation
English
Ελληνικά
Ελληνικά
English
Ελληνικά
Σύνδεση
Toggle navigation
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
007 Πολυτεχνική Σχολή / Faculty of Engineering
Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών / Department of Electrical and Computer Engineering
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
007 Πολυτεχνική Σχολή / Faculty of Engineering
Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών / Department of Electrical and Computer Engineering
Προβολή τεκμηρίου
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Article
Welcome Message
Ημερομηνία
2015
Συγγραφέας
Kundu, S.
Pontarelli, S.
Khan, O.
Michael, Maria K.
Source
Proceedings of the 2015 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFTS 2015
Issue
Journal Article
Google Scholar check
Metadata
Εμφάνιση πλήρους εγγραφής
Links
https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84962791735&doi=10.1109%2fDFT.2015.7315125&partnerID=40&md5=9db48bc01629e4c9c1c70c394f6f295d
DOI
10.1109/DFT.2015.7315125
URI
http://gnosis.library.ucy.ac.cy/handle/7/43937
Collections
Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών / Department of Electrical and Computer Engineering
[2897]
Cite as
APA
Vancouver
Harvard
BibTeX
Αναζήτηση στο Γνῶσις
Αυτή η συλλογή
Πλοήγηση
Όλο το Γνῶσις
Κοινότητες & Συλλογές
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Αυτή η συλλογή
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Ο λογαριασμός μου
Σύνδεση
Statistics
View Usage Statistics