Total Visits

Views
Study of the annealing kinetic effect and implantation energy on phosphorus-implanted silicon wafers using spectroscopic ellipsometry124

Total Visits Per Month

Ιούλιος 2024Αύγουστος 2024Σεπτέμβριος 2024Οκτώβριος 2024Νοέμβριος 2024Δεκέμβριος 2024Ιανουάριος 2025
Study of the annealing kinetic effect and implantation energy on phosphorus-implanted silicon wafers using spectroscopic ellipsometry0940020

Top country views

Views
Ηνωμένες Πολιτείες41
Πολωνία40
Κίνα7
Αυστραλία5
Κύπρος4
Ιρλανδία3
Βέλγιο1
Γαλλία1
Ολλανδία1
Σουηδία1

Top cities views

Views
Warsaw40
Boardman11
Mountain View5
San Ramon5
Beijing4
Limassol4
Ann Arbor3
Dublin3
San Diego3
Des Moines2