Toggle navigation
English
Ελληνικά
Ελληνικά
English
Ελληνικά
Σύνδεση
Toggle navigation
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
002 Σχολή Θετικών και Εφαρμοσμένων Επιστημών / Faculty of Pure and Applied Sciences
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
002 Σχολή Θετικών και Εφαρμοσμένων Επιστημών / Faculty of Pure and Applied Sciences
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
Προβολή τεκμηρίου
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Article
Transmission and reflection spectroscopy on ion implanted semiconductors
Ημερομηνία
1997
Συγγραφέας
Seas, Antonios
Christofides, Constantinos
ISSN
0080-8784
Source
Semiconductors and Semimetals
Volume
46
Pages
39-71
Google Scholar check
Keyword(s):
DAMAGE
TRANSPORT
DEFECTS
GAAS
KINETICS
PROFILES
REFRACTIVE-INDEXES
ANNEALED SILICON LAYERS
DOPED SILICON
IMPLANTATIONS
Metadata
Εμφάνιση πλήρους εγγραφής
URI
http://gnosis.library.ucy.ac.cy/handle/7/59036
Collections
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
[1410]
Cite as
APA
Vancouver
Harvard
BibTeX
Αναζήτηση στο Γνῶσις
Αυτή η συλλογή
Πλοήγηση
Όλο το Γνῶσις
Κοινότητες & Συλλογές
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Αυτή η συλλογή
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Ο λογαριασμός μου
Σύνδεση
Statistics
View Usage Statistics