Toggle navigation
English
Ελληνικά
Ελληνικά
English
Ελληνικά
Σύνδεση
Toggle navigation
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
007 Πολυτεχνική Σχολή / Faculty of Engineering
Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών / Department of Electrical and Computer Engineering
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
007 Πολυτεχνική Σχολή / Faculty of Engineering
Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών / Department of Electrical and Computer Engineering
Προβολή τεκμηρίου
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Article
Test pattern generation of relaxed n-detect test sets
Ημερομηνία
2012
Συγγραφέας
Neophytou, S. N.
Michael, Maria K.
Source
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
Volume
20
Issue
3
Pages
410-423
Google Scholar check
Metadata
Εμφάνιση πλήρους εγγραφής
Links
https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-84857452340&doi=10.1109%2fTVLSI.2010.2102056&partnerID=40&md5=b02410d58bba0662ee1246ad814b0d74
DOI
10.1109/TVLSI.2010.2102056
URI
http://gnosis.library.ucy.ac.cy/handle/7/44336
Collections
Τμήμα Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών / Department of Electrical and Computer Engineering
[2897]
Cite as
APA
Vancouver
Harvard
BibTeX
Αναζήτηση στο Γνῶσις
Αυτή η συλλογή
Πλοήγηση
Όλο το Γνῶσις
Κοινότητες & Συλλογές
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Αυτή η συλλογή
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Ο λογαριασμός μου
Σύνδεση
Statistics
View Usage Statistics