Total Visits

Views
Photothermal reflectance investigation of processed silicon. I. Room-temperature study of the induced damage and of the annealing kinetics of defects in ion-implanted wafers79

Total Visits Per Month

Ιανουάριος 2024Φεβρουάριος 2024Μάρτιος 2024Απρίλιος 2024Μάϊος 2024Ιούνιος 2024Ιούλιος 2024
Photothermal reflectance investigation of processed silicon. I. Room-temperature study of the induced damage and of the annealing kinetics of defects in ion-implanted wafers1060151

Top country views

Views
Πολωνία38
Ηνωμένες Πολιτείες17
Αυστραλία4
Κίνα3
Κύπρος2
Ιρλανδία2
Γαλλία1
Ταϊβάν1
Ουκρανία1

Top cities views

Views
Warsaw38
San Mateo7
Boardman4
San Ramon3
Des Moines2
Dublin2
Limassol2
Shanghai2
Ann Arbor1
Halls Head1