Toggle navigation
English
Ελληνικά
Ελληνικά
English
Ελληνικά
Σύνδεση
Toggle navigation
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
002 Σχολή Θετικών και Εφαρμοσμένων Επιστημών / Faculty of Pure and Applied Sciences
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
002 Σχολή Θετικών και Εφαρμοσμένων Επιστημών / Faculty of Pure and Applied Sciences
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
Προβολή τεκμηρίου
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Article
Noncontact carrier lifetime depth profiling of ion-implanted Si using photothermal radiometry
Ημερομηνία
1997
Συγγραφέας
Othonos, Andreas S.
Salnick, Alex
Mandelis, Andreas
Christofides, Constantinos
ISBN
2-H
Source
Physica Status Solidi A-Applications and Materials Science
Volume
161
Issue
2
Pages
R13-R14
Google Scholar check
Metadata
Εμφάνιση πλήρους εγγραφής
Links
1862-6300
DOI
10.1002/1521-396X(199706)161:23.0.CO
URI
http://gnosis.library.ucy.ac.cy/handle/7/58949
Collections
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
[1411]
Cite as
APA
Vancouver
Harvard
BibTeX
Αναζήτηση στο Γνῶσις
Αυτή η συλλογή
Πλοήγηση
Όλο το Γνῶσις
Κοινότητες & Συλλογές
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Αυτή η συλλογή
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Ο λογαριασμός μου
Σύνδεση
Statistics
View Usage Statistics