Toggle navigation
English
Ελληνικά
Ελληνικά
English
Ελληνικά
Σύνδεση
Toggle navigation
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
002 Σχολή Θετικών και Εφαρμοσμένων Επιστημών / Faculty of Pure and Applied Sciences
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
002 Σχολή Θετικών και Εφαρμοσμένων Επιστημών / Faculty of Pure and Applied Sciences
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
Προβολή τεκμηρίου
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Article
Chapter 4 Photomodulated Thermoreflectance Investigation of Implanted Wafers. Annealing Kinetics of Defects
Ημερομηνία
1997
Συγγραφέας
Christofides, Constantinos
Source
Semiconductors and Semimetals
Volume
46
Issue
C
Pages
115-150
Google Scholar check
Metadata
Εμφάνιση πλήρους εγγραφής
Links
https://www.scopus.com/inward/record.uri?eid=2-s2.0-13044302065&doi=10.1016%2fS0080-8784%2808%2960107-6&partnerID=40&md5=46b6ede1b578442fe472d925dbaf8118
DOI
10.1016/S0080-8784(08)60107-6
URI
http://gnosis.library.ucy.ac.cy/handle/7/58582
Collections
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
[1411]
Cite as
APA
Vancouver
Harvard
BibTeX
Αναζήτηση στο Γνῶσις
Αυτή η συλλογή
Πλοήγηση
Όλο το Γνῶσις
Κοινότητες & Συλλογές
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Αυτή η συλλογή
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Ο λογαριασμός μου
Σύνδεση
Statistics
View Usage Statistics