Toggle navigation
English
Ελληνικά
Ελληνικά
English
Ελληνικά
Σύνδεση
Toggle navigation
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
002 Σχολή Θετικών και Εφαρμοσμένων Επιστημών / Faculty of Pure and Applied Sciences
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
002 Σχολή Θετικών και Εφαρμοσμένων Επιστημών / Faculty of Pure and Applied Sciences
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
Προβολή τεκμηρίου
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Article
Reconstruction Mechanisms in Ion Implanted and Annealed Silicon Wafers
Ημερομηνία
1995
Συγγραφέας
Christofides, Constantinos
Seas, Antonios
Othonos, Andreas S.
ISSN
1662-9507
Source
Defect and Diffusion Forum
Volume
117-118
Pages
45-64
Google Scholar check
Keyword(s):
Raman Spectroscopy
Defect
Fourier Transform
Ion Implantation
Kinetics of Annealing
Photothermal Reflectance
Spreading Resistance
Metadata
Εμφάνιση πλήρους εγγραφής
Links
http://www.scientific.net/DDF.117-118.45
DOI
10.4028/www.scientific.net/DDF.117-118.45
URI
http://gnosis.library.ucy.ac.cy/handle/7/58623
Collections
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
[1411]
Cite as
APA
Vancouver
Harvard
BibTeX
Αναζήτηση στο Γνῶσις
Αυτή η συλλογή
Πλοήγηση
Όλο το Γνῶσις
Κοινότητες & Συλλογές
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Αυτή η συλλογή
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Ο λογαριασμός μου
Σύνδεση
Statistics
View Usage Statistics