Toggle navigation
English
Ελληνικά
Ελληνικά
English
Ελληνικά
Σύνδεση
Toggle navigation
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
002 Σχολή Θετικών και Εφαρμοσμένων Επιστημών / Faculty of Pure and Applied Sciences
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
002 Σχολή Θετικών και Εφαρμοσμένων Επιστημών / Faculty of Pure and Applied Sciences
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
Προβολή τεκμηρίου
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Article
Photoluminescence Measurements on Phosphorus Implanted Silicon - Annealing Kinetics of Defects
Ημερομηνία
1995
Συγγραφέας
Othonos, Andreas S.
Christofides, Constantinos
ISSN
0021-8979
Source
Journal of Applied Physics
Volume
78
Issue
2
Pages
796-800
Google Scholar check
Keyword(s):
TEMPERATURE
ION-IMPLANTATION
LAYERS
PHOTO-LUMINESCENCE
Metadata
Εμφάνιση πλήρους εγγραφής
DOI
10.1063/1.360337
URI
http://gnosis.library.ucy.ac.cy/handle/7/58929
Collections
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
[1411]
Cite as
APA
Vancouver
Harvard
BibTeX
Αναζήτηση στο Γνῶσις
Αυτή η συλλογή
Πλοήγηση
Όλο το Γνῶσις
Κοινότητες & Συλλογές
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Αυτή η συλλογή
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Ο λογαριασμός μου
Σύνδεση
Statistics
View Usage Statistics