Toggle navigation
English
Ελληνικά
Ελληνικά
English
Ελληνικά
Σύνδεση
Toggle navigation
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
002 Σχολή Θετικών και Εφαρμοσμένων Επιστημών / Faculty of Pure and Applied Sciences
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
Προβολή τεκμηρίου
Αρχική
Δημοσιεύσεις ΠΚ / UCY Publications
002 Σχολή Θετικών και Εφαρμοσμένων Επιστημών / Faculty of Pure and Applied Sciences
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
Προβολή τεκμηρίου
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Article
Photoluminescence and Raman scattering of ion implanted semiconductors. Influence of annealing
Ημερομηνία
1997
Συγγραφέας
Othonos, Andreas S.
Christofides, Constantinos
ISSN
0080-8784
Source
Semiconductors and Semimetals
Volume
46
Pages
73-114
Google Scholar check
Keyword(s):
SI
DEFECTS
KINETICS
GE
INP
LASER
MICROPROBE
PHOTO-LUMINESCENCE
SILICON LAYERS
Metadata
Εμφάνιση πλήρους εγγραφής
URI
http://gnosis.library.ucy.ac.cy/handle/7/58927
Collections
Τμήμα Φυσικής / Department of Physics
[1411]
Cite as
APA
Vancouver
Harvard
BibTeX
Αναζήτηση στο Γνῶσις
Αυτή η συλλογή
Πλοήγηση
Όλο το Γνῶσις
Κοινότητες & Συλλογές
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Αυτή η συλλογή
Ανά ημερομηνία υποβολής
Συγγραφείς
Τίτλοι
Λέξεις κλειδιά
Ανά Τύπο
Ανά Τμήμα
Ανά Σχολή
Ο λογαριασμός μου
Σύνδεση
Statistics
View Usage Statistics