Search
Now showing items 1-3 of 3
Parallel fault simulation and test generation automation processes for chip multiprocessors
(Πανεπιστήμιο Κύπρου, Πολυτεχνική Σχολή / University of Cyprus, Faculty of Engineering, 2018-10)
Ζούμε στη εποχή των αρχιτεκτονικών πολλαπλών πυρήνων όπου προϊόντα καθημερινής χρήσης όπως τα έξυπνα τηλέφωνα, wearable’s, τάμπλετς ακόμα και αυτοκίνητα εμπεριέχουν ολοκληρωμένα κυκλώματα πολλαπλών πυρήνων. Ο αριθμός των ...
Path delay fault testing for digital VLSI circuits using specialized binary decision diagrams
(Πανεπιστήμιο Κύπρου, Πολυτεχνική Σχολή / University of Cyprus, Faculty of Engineering, 2012-05)
Η αυξημένη πολυπλοκότητα στο σχεδιασμό, καθώς επίσης και οι υψηλές ταχύτητες λειτουργίας των σύγχρονων κυκλωμάτων, τα οποία περιέχουν δισεκατομμύρια ημιαγωγούς (transistors) σε ένα ενιαίο ολοκληρωμένο κύκλωμα, έχουν οδηγήσει ...
High quality test pattern generation techniques for digital VLSI circuits
(Πανεπιστήμιο Κύπρου, Πολυτεχνική Σχολή / University of Cyprus, Faculty of Engineering, 2009-04)
Η εξέλιξη της τεχνολογίας ολοκλήρωσης επέτρεψε την υλοποίηση ολοκληρωμένων κυκλωμάτων (μικροτσίπ) με εκπληκτικές δυνατότητες. Η δραματική αύξηση της πολυπλοκότητας των ολοκληρωμένων, πολλές φορές δυσανάλογα ως προς το ...